三维光学表面轮廓仪/白光干涉仪

Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K0/白光干涉仪/表面形貌/粗糙度/三维轮廓等测量系统


布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术，服务于科研和生产领域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了64位多核操作和分析处理软件，技术白光干涉仪（WLI）硬件和前所未有的操作简易性，是历年来来先进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中，广泛使用和直观的3D表面计量平台。


应用：
    对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供全方位非接触式测量方案，样品从小至微米级别的微机电器件（MEMS），大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据
特征：
业界高的垂直分辨率，强大的测量性能；
0.5~200倍的放大倍率；
任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程；
高分辨率摄像头；


 测量硬件的独特设计，增强生产环境中的可靠性和重复性；
较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力
专利的自动校准能力；


 多核处理器下运行的Vision64软件，大大提高三维表面测量和分析速度
数据处理速度提高几十倍；
分析速度提高十倍；
大量数据无缝拼接能力；


  高度直观的用户界面，拥有业界强的实用性，操作简便和分析功能强大
优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程；
特的可视化操作工具；
可自行设置数据输出的界面；