BOWMAN博曼原装镀层膜厚仪

x-ray膜厚仪（膜厚测试仪）只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

博曼x-ray膜厚仪采用了全新设计的发生器，全新设计的光学编码定位系统测角仪，全新优化设计的光路系统，基于当前最先进的电子技术全新设计的电路板，仪器小巧，结构紧凑，灵敏度高，性价比最好。她完全突破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。