线路板沉镍金膜厚测试仪

厂商 :金霖电子(香港)有限公司

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  • 膜厚测试仪
  • 膜厚仪
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商品详细描述
美国Bowman膜厚测试仪主要用于:元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,美国Bowman膜厚测试仪此仪器特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.需短短数秒钟,所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.美国Bowman膜厚测试仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 。
深圳市金东霖科技有限公司是美国博曼X射线镀层测厚仪中国区一级专业资深代理商,集销售、保养、校正(调试)及维修等专业服务一体化
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