美国原装博曼沉镍金镀层膜厚测试

美国博曼（BOWMAN)膜厚测试仪测量电镀、PCB等各种金属镀层的厚度，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用，高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 

半导体博曼（BOWMAN)测厚仪可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费，应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，深圳市金东霖科技有限公司是美国博曼X射线镀层测厚仪中国区一级专业资深代理商，集销售、保养、校正（调试）及维修等专业服务一体化 ，让客户满意是我们金东霖科技始终的目标！