美国原装X射线荧光博曼膜厚测

57.美国博曼 X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。
博曼膜厚测试仪主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素。

膜厚仪界面主要部分：
 § A） 待测样品放大的图像
 § B） 清晰的测试结果显示：可选择标准或大字符
 § C） X射线波谱，显示样品中主要元素
美国BOWMAN（博曼）镀层膜厚仪应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管?探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.
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美国博曼Bowman-XRF-1结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。元素成分分析检测结果可精确到ppm级，您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。