厂商 ：北京羲和阳光科技发展有限公司
北京 北京- 主营产品：
- 自动41点测厚仪
- 碳氧含量测试仪
- 硅芯电阻率测试仪
联系电话 ：18618315708
商品详细描述
应用范围：
n 薄膜太阳能电池
n 光学镀膜
n 平面显示器
n LCD and LED
n 半导体及介电质
n 平滑与粗糙样品皆适用
系统特色：
n 即时运算
n 量测速度小于1秒
n 薄膜厚度，反射率CIE色度量测
n 易于操作，成本效益高
n 包含可追追溯反射率标准值
n 可同时适用平滑与粗糙样品
参考规格
n 薄膜太阳能电池
n 光学镀膜
n 平面显示器
n LCD and LED
n 半导体及介电质
n 平滑与粗糙样品皆适用
系统特色：
n 即时运算
n 量测速度小于1秒
n 薄膜厚度，反射率CIE色度量测
n 易于操作，成本效益高
n 包含可追追溯反射率标准值
n 可同时适用平滑与粗糙样品
参考规格
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量测功能 |
薄膜厚度，反射率，CIE色度 |
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系统模式 |
反射式光源或反射式积分球（8/D,D/8Selective） |
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波长范围 |
380-850nm,380-1100nm,380-1650nm or custom |
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膜厚量测范围 |
300-400,000Angstrom |
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解析度 |
0.5-2nm |
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精确度 |
1nm |
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重复性 |
±1% |
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量测速度 |
少于1秒 |
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量测光源 |
高瓦素卤素灯源（最高可达1650nm） |
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适用样品 |
光学镀膜，蓝宝石GaN,彩色滤片，太阳能电池，偏光镜等等 |
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系统平台 |
固定平台/x-ystage(行程100mm*100mm,150mm*150mm或客制比)/自动平台 |
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量测软件 |
Windows Me,98,2000,XP comparable.薄膜厚度自动设计软件，反射率，表面粗糙度，色差量测软件 |
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选够 |
显微镜 |
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