LGA 老化座

产品参数

品牌：YRD 型号：LGA16-0.9老化座 类型：通信IC 用途：军工 IC间距：0.9mm IC尺寸：10.8*10.8

采用单扣/双扣式旋钮结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不偏移;  

压块结构合理，下压速度线性可控,下压力度平稳均衡，芯片管壳受力均匀保证安全； 

 精确的定位槽、导向孔,确保IC定位精确； 整体采用高性能耐高温绝缘工程材料制作，可根据客户要求、满足24H/48H/72H老化测试测试电流最高可达10 A，电压220V/380V，可满足：湿度90%,及军工三温：- 45摄氏度/常温/+150度的温差等恶劣老化测试环境;  

 探针的爪头呈凹圆弧型,有效承托锡球，既可以保证接触性能稳定又能保护锡球和焊盘外形； 双头探针或单头焊接式探针结构，保证探针和PCB板接触良好;  探针更换方便，维修成本低; 最小可做到测试间距： 双头探针：Pitch=0.25mm 单头焊接：Pitch= 0.5 mm 

可根据用户要求定做各种阵列的集成电路产品老化验证测试;Socket; 

. 交货速度快 ，最快3天出货！工厂直销！品质保证！ 

 产品用途：集成电路产品老化验证测试;

产品实拍

深圳圆融达微电子技术有限公司

机顶盒芯片测试架 无线网卡测试架 QFP测试架 QFN测试架 IC测试治具 BGA烧录座 BGA测试治具 BGA测试座

公司简介

深圳圆融达微电子技术有限公司成立于2011年1月，是一家集研发、设计、生产、销售为一体的高新技术企，从事BGA、QFN、QFP等封装的芯片测试治具，摄相光学芯片成像测试、老化座、烧录座、OS测试治具、蓝牙、WiFi高频模块及自动化测试解决方案。

位于深圳市龙华新区硅谷动力产业十一园，工厂占地面积1200平方米，拥有一支精良的技术团队和一套完整的标准生产体系。

高品质产品获得海内外客户的高度认可，服务于中国、台湾、韩国、新加坡、美国、印度等诸多地区。并持续创新，精益求精！

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