DFN老化座

IC老化座有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择，操作方便。? ?高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位准确，测试效率高。? IC老化座采用双扣式结构，操作方便。? 可根据用户要求定做各种阵列的socket。? IC老化座用途：集成电路应用功能验证测试。? ?上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位。? ?探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球。? ?IC老化座测试频率可达9.3GHz 探针可更换，维修方便，成本低。 额定电流:3A/PIN绝缘电阻:1000MΩ(500VDC) 绝缘体抗电压:700VAC/1分钟 接触电阻:50mΩMax 感应系数:1.5nH(约)在50MHz。 工作温度:-55°C到175°C 镀金厚度：30–50μ"硬金(Hardgold) 频率可达10.9G。 探针寿命：30-50万次 绝缘材料：FR4、Torlon、PEI 可做到中心跳距pitch=0.25mm;