LGA117老化座

采用单扣旋钮结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不偏移; ? 压块结构合理，下压速度线性可控,下压力度平稳均衡，芯片管壳受力均匀； ?准确的定位槽、导向孔,确保IC定位准确； 整体采用高性能耐高温绝缘工程材料制作，可根据客户要求、满足24H/48H/72H老化测试测试电流可达10 A，电压220V/380V，可满足：湿度90%,及军工三温：- 45摄氏度/常温/+150度的温差等恶劣老化测试环境; ? 探针的爪头呈凹圆弧型,有效承托锡球，既可以保证接触性能稳定又能保护锡球和焊盘外形； 双头探针或单头焊接式探针结构，保证探针和PCB板接触良好; ? 探针更换方便，维修成本低; 可做到测试间距： 双头探针：Pitch=0.25mm 单头焊接：Pitch= 0.5 mm 可根据用户要求定做各种阵列的集成电路产品老化验证测试;Socket; 交货速度快 ！工厂直销！品质保证！ 产品用途：集成电路产品老化验证测试;航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，配老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选的连接之用。