光谱椭偏仪

厂商 :北京羲和阳光科技发展有限公司

北京 北京
  • 主营产品:
  • 自动41点测厚仪
  • 碳氧含量测试仪
  • 硅芯电阻率测试仪
联系电话 :18618315708
商品详细描述
光谱椭偏仪
产品型号:SE400adv
简要描述:高性能椭偏仪,针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置,拥有业内最高测量精确度。



技术参数
膜厚范围:0-30000nm
折射指数:± 0.0001
厚度准确度:± 0.01nm
入射角度:20 - 90°
波长范围:250-1100nm(深紫外、近红外、红外可选)
Psi=±0.01°,Delta=±0.02°


特点
光谱范围:UV/VIS range 250 - 1100 nm,可选扩展光谱范围NIR (700 - 1700 nm) or (700 - 2100 nm)、UV-VIS 范围(190 - 1100 nm) ;
自动旋转起偏器可精确测量任意偏振状态;
步进扫描分析仪可高速采集低噪音信号;

可变角度范围:from 10-90°,可升级为自动变角度10-90°控制 ;

单层薄膜/多层薄膜快速薄膜厚度、折射率测量;
专业测试软件可大范围Psi和Delta数据自动测量,并对测试数据进行采集和分析,内置几百种材料数据库;
可扩展二维自动扫描平台,实现(50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm)Mapping测量功能以及3D分析;
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