双极板材料四探针低电阻测试仪

电阻精度：≤0.3%消震台用于支承探针架。 4.3吋液晶屏幕显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、电阻率、压强，自动测量、集成电路系统、恒流输出，如选购PC软件，可以分析在不同压力下接触电阻得变化曲线图谱. 由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表. 提供中文或英文两种语言操作界面选择. 温度计温度范围0~40℃，分度值0.1℃。 对数比较器，比较器法用。输出电压与两个电流之比的对数成正比，当带有精密电阻R时，能测量1Ω~10MΩ电阻，偏离线性不超过±0.1%。 直流电压源，恒压法用，具有1~20mV的可调恒定电压输出。当负载在1Ω~10MΩ范围内变化时，电压输出变化在±0.1%以内。 双极板四探针电阻测试仪 选用合适的材料与工艺制备试样表面，青除表面损伤和沾污，以便获得稳定的电学测量表面。将试样清洗干净，外延片则不需制备表面。 将探针在用5?m粒度研磨膏研磨过的硅片表面步进压触500次以上，或用8000~12000号的纱布或砂纸非常轻地修整探针尖，使针尖老化。将针尖进行清洁处理，步骤测量1Ω·cm的均匀P型硅单晶样品扩展电阻，如果多次测量的扩展电阻值的相对标准偏差在±10%以内，并且平均值是在正常的扩展电阻值范围内，可认为针尖是良好的，否则该探针尖应重新老化或使用新探针尖。 提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求 直流电流测试仪，恒压法用，1nA~10mA，精却度在±0.1%以内。 采用与被测试样相同的材料与工艺，制备校准样品。如果是用四探针测量电阻率后递一次制备样品，应至少除去25?m厚的样品表面。将校准样品清洗干净。 工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz? 功 耗：<30W 测量：按GB 1550 确定试样的导电类型，按GB 1555或GB 1556 测定试样晶向；若试样为外延片，按GB/T 14847或YS/T 15 测定试样的外延层厚度，记录测定结果。 如果使用两探针装置，使两个针分别以单探针结构在1Ω·cm的P型单晶上测量扩展电阻，以证实两根针测得的扩展电阻是相等的，（偏离在10%以内）。如果用相等的探针负荷和下降速度不能得到相等的阻值，则需再次老化或使用新探针尖。 标准：校准：在本方法电阻率测量范围内选择与被测试样相同晶向和导电类型的各种电阻率的校准样品，每一数量级至少3块。 注：P型单晶样品背面应具有大面积欧姆接触。 对每一校准样品，在四探针测量过的区域至少做20次扩展电阻测量，测量的升序大约等于四探针的两外探针之间的距离。 方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□ 如果以前没有测量过校准样品的电阻率，按GB/T 1552测量每块校准样品的电阻率，记录测量结果。 在至少放大400倍的显微镜下检查探针压痕的重复性，如果一给定探针得到的压痕不全部相似，应重新老化或使用新探针尖。 BEST-E适用范围压力范围：0-1000kg（0-4MPa）. 测量程序和测量环境温度为23±2℃，相对湿度不大于65%。在浸射光或黑暗条件下进行测量。必要时应进行电磁苹蔽。探针架置于消震台上，为保证小讯号测量条件，应使探针电势不大于20mV。应避免试样表面上存在OH-和F-离子，如果试样在制备或清洗中使用了含水溶剂或材料，测量前可将试样在140±20℃条件下于空气中热处理10~15min。 电学测量装置可采用恒压法、恒流法和对数比较器法。 测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA 电流精度：±0.1%读数 量装置机械装置探针架可采用单探针、两探针和三探针结构，探针架用作支承探针，使其以重复的速度和玉定的压力将探针尖下降至试样表面，并可调节探针的接触点位置。 电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 观测显微镜放大倍数不小于400倍。 根据探针负荷，确定探针下降到试样上的速度，当负荷等于0.4N时，比较合适的探针下降速度为1mm/s。 用于双极板材料本体电阻率和双极板与炭纸之间的接触电阻的测量和分析. 四端测试法是目前较先尽之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。 计算每个校准样品测得的扩展电阻的平均值和标准偏差。当标准偏差小于平均值的10%时方可选作为校准样品。 方法扩展电阻法是一种实验比较法。该方法是先测量重复形成的点接触的扩展电阻，再用校准曲线来确定被测试样在探针接触点附近的电阻率，扩展电阻R是导电金属探针与硅片上一个参考点之间的电势降与流过探针的电流之比。 绝缘性探针之间及任一探针与机座之间的直流绝缘电阻大于1GΩ。 电阻测量范围： 用真空吸盘或其他方法将试样固定在样品台上，调节试样或探针位置，使探针能降到试样上的玉定测量位置。 显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、电阻率、压强等. 仪器准备如果使用多探针装置，调节探针间距到期望值，记录探针间距。选择探针负荷为0.1~1N，在多探针装置中，每一探针应使用相同负荷。 探针尖采用坚硬耐磨的良好导电材料如锇、碳化钨或钨-钌合金等制成。针尖曲率半径不大于25?m步距的位移。 利用每个合格的校准样品的电阻率值和对应的扩展电阻平均值拟合得到R-ρ校准曲线，绘制在双对数坐标纸上。 测试方式: 四探针测量（体电阻率）和四端法（接触电阻测量） 样品形状为正方形（镀金电极为5cm×5cm)，面积为25cm2（其他规格定制） 直流电压源，比较器法用。恒定输出1~20mV。可调直流电流源，恒流法用。线性范围1~100mV，精度在±0.1%以内，输入阻抗不小于500MΩ。 GB/T 20042.6-2011质子交换膜燃料电池 第6部分：双极板特性测试方法中四探针低阻测量和接触电阻测试方法及要求； 11.标配：测试探头1个；测试平台1个；主机1套；加压装置1套；