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Foundry在流片时,由于版图效应(LDE),终加工的版图在尺寸和金属属性上会有偏差。偏差导致实测结果和EDA结果有差异,所以设计阶段的EM建模会不精准,增大流片失败风险。在先进工艺上,LDE问题更加显著。
在EM建模中,如果EM工具能考虑LDE问题,验证就能更接近实测值。
Foundry提供的PDK会有LDE信息,主要是涵盖下面几点:
(1)
体电阻率随线宽、线间距不同的差异表;
(2)
方块电阻随线宽、线间距不同的差异表;
(3)
线宽随线间距不同的差异表。
射频集成电路设计设计非常复杂,难度很大,EM软件的使用不仅要与其他EDA软件衔接,还要准确导入制成工艺信息,电磁sim的设置也需要考虑很多专业问题,因此非常需要专业人员的指导。
北京欧普兰科技有限公司是一家有十多年历史的、专业EDA软件代理公司,Oplantech有专业的技术支持团队,团队成员也都有的专业背景,有10年以上的射频电路设计经验,可以为为中国区内的客户提供技术支持服务。
在 T-coil 的宽度应用中,除了上面对设计优化的考虑外,一些 T-coil 自身问题也需要在
设计中关注并解决。
(1) 片上 T-coil 往往占据顶层金属大量面积,而在顶层电源布线以及非常紧张了,
所以大面积的 T-coil 对顶层设计非常不利;同时,大面积的 T-coil 不仅影响面积
使用率,而且会产生大量功耗。如果不解决大面积 T-coil 问题,想利用 T-coil 设
计多个高速 IO 口的想法将无法实现。
(2) T-coil 也存在可靠性问题。对于 ESD 结构中的 T-coil 也涉及到 ESD 电流路径, Tcoil 自身的串联电阻会引起较低的 ESD 抵抗力,高功耗会破坏 T-coil(尤其在 Tcoil 的一些突变拐角处,很容易受到 ESD 破坏)。另外,如果 IO 电路在常规模式
是大电流情况时, T-coil 可能会由于电迁移导致破坏。为了提升 T-coil 可靠性,ADC芯片设计,
需要设计较宽的金属走线,这又使得 T-coil 面积增加了。
下面几个例子,讨论如何提升 T-coil 可靠性,同时又减小面积: