BGA152测试座 bga152烧录座 老化座

BGA152测试座可以测试BGA88，BGA132，BGA137的这几款芯片，探针结构，使用寿命10万次，◆采用手动翻盖式结构，操作方便；
　　 ◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
　　 ◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损坏锡球；
　　 ◆高精度的定位槽，保证IC定位精确，测试效率高；
　　 ◆测试准确性高，大大减少误判率；
　　 ◆采用进口双头针，探针可更换，维修方便，成本低；
　　 ◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试所有内存IC（宽度≤12MM）；
　　 ◆有球无球均可测试（只需更换上盖的IC压板）；
　　 ◆测试寿命长，有效测试10万次以上；
　　 ◆内置4个EEPROM,通过一个4位开关切换，可存储4组SPD，方便测试，节约时间；
　　 ◆绝缘材料：FR4、Torlon、PEI、PEEK； 　
　　 ◆测试频率可达9.3GHz；
　 　◆可以免费提供相关的技术支持。