深圳一通公司供可靠性温度冲击试验

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温度冲击试验

[项目介绍]  

本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。

 

[业务范围]

1.计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等

2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等。

3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；

4.其他：包装箱、运输设备等。

 

[测试参考标准]

IEC 60068-2-14（下载查看），GB/T 2423.22（下载查看）,GJB 150.5（下载查看）等

 

[设备参数]

设备型号：CJ602S3 Ⅰ

试验温度范围：-75℃～200℃

高温设定范围：+60℃～+200℃

低温设定范围：0℃～-75℃

温变速率：≤5Min

内箱尺寸：670×650×460mm

 

[一通检测优势]

a.专业的技术团队为您的产品量身定做可靠性设计及测试方案；

b.专业的可靠性测试团队为您的产品进行测试；

c.对于您所需要的可靠性方面的所有技术问题及测试问题，您都会得到最专业的解答。

d．高效的现场测试安排与加急出具产品检测报告，解决您的燃眉之急。

e.一对一配备客服专员和技术工程师，让您在测试过程中感受贴心服务。