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片级芯片测试在IC制造工艺中已经成为不可或缺的一部分，发挥着重要的作用，反射式光电传感器，而测试探卡在圆片级芯片测试过程中起着关键的信号通路的作用。分析指出由于芯片管脚密度的不断增加以及在高频电路中应用的需要，传统的组装式探卡将不能适应未来的测试要求;和传统探卡的组装方法相比，MEMS技术显然更适应当今的IC技术。综述了针对MEMS探卡不同的应用前景所提出的多种技术方案，特别介绍了传感技术国家重点实验室为满足IC圆片级测试的要求，针对管脚线排布型待测器件的新型过孔互连式悬臂梁芯片和针对管脚面排布型待测器件的Ni探针阵列结构的设计和制造。
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氧化锆传感器毛病缘由
常见氧化锆传感器的毛病为外表被铅化物或碳化物掩盖，招致气体不能浸透、氧离子不能扩散而失效。当毛病灯报警，读取传感器毛病后，有必要对其停止诊断，由于氧传感器报警不一定就是传感器有毛病，其报警信号还遭到下列要素的影响。在电控发起机中，用于燃料系统闭环控制的氧传感器是一个重要的电子元件，用来监测废气中氧的含量，用电压信号反应给ECU，以控制空燃比坚持在14.7。同时，它又是多种毛病信号的代言报警元件。
1.点火系工作情况；
2.进气系统密封性能；
3.排气系统能否梗塞；
4.喷油器的工作情况；
5.供油系统油压上下。
因而，在发起机维修中，福田区光电传感器，一旦呈现氧传感器报警信号，应经过电脑加人脑对毛病部位停止综合剖析、判别、互换分离，合理维修。
1.关于检测概率引起的传感器更新顺序问题。在迭代形式的多传感器PHD(Iterated corrector PHD，IC-PHD)滤波中，跟踪结果的好坏主要取决于后一个更新传感器的检测概率。当该传感器的检测概率较低时，光电传感器编码，极易造成整个多传感器系统发生漏检。为此，基于高斯混合实现的IC-PHD滤波，本文提出一种改进的滤波算法。该算法与原始滤波算法的结构类似，不同的是改进算法中每个高斯分量对应的检测概率或漏检概率是由多个传感器的检测概率和漏检概率融合而成的。结果表明，改进算法不仅降低检测概率的影响，同时也弱化了传感器顺序的影响。
2.关于漏检引起的目标问题。在乘积多传感器PHD(Product multi-sensor PHD，PM-PHD)滤波中，修正系数需要计算每一项均大于零的无穷项的和，计算不可行。为此，提出一种有限项近似方法。该方法在分析无穷项收敛性的基础上，利用具有代表性的有限项的求和来近似。此外，一旦发生目标漏检，PM-PHD滤波则有可能估计出目标。为此，基于高斯混合实现的PM-PHD滤波，本文提出一种高斯分量权重的重分配方法。结果表明，该方法能同时避免目标和漏检的发生，有效提高了滤波算法的性能。
3.关于量测信息利用不完全引起的目标权重估计错误问题。在计算由量测划分产生的量测子集的权重时，由于IC-PHD滤波不能充分利用多个传感器的量测信息，有时会出现权重过大或过小的现象。为此，本文提出一种双向权重计算方法。该方法将量测子集的权重分为两部分。一部分主要用于解决因漏检造成的权重过低问题，另一部分主要用于解决因虚警造成的权重过高问题。结果表明，改进方法能有效提高滤波算法的跟踪精度和鲁棒性。
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