光电前放组件

通常非接触叶片振动测量或其他测量试验中，为方便安装，传感器线缆短，光电前放仪器，则光电前放暴露于高温、复杂电磁环境下，试验时人工接近，导致试验中途传感器故障无法及时调整等困扰。FSE解决了此类问题。试验时先安装短小轻便的传感器探头，FSE布置于线槽或电缆沟里，光电前放组件，连接器对接，即可将传感器信号延长至操作者附近。该方法兼顾了安装、电磁兼容、环境温度等因素影响，满足了工程应用中的迫切需求。

雪崩光电二极管(APD)具有响应度高、响应速度快，体积小等突出优点，光电前放系统，使得它在微弱光信号检测领域中得到了广泛的应用。它借助反向偏压的作用产生载流子的倍增效应，其性能参数与反向偏压、环境温度和背景光亮度等有着密切的联系。为此，论文在实验上研究了带前放Si-APD探测器的动态特性。论文在深入资料调研的基础上，光电前放，给出了带前放Si-APD探测器动态特性表征参量的物理含义及其测试方法，并建立了可在不同环境温度下测量带前放Si-APD探测器动态特性参量的原理实验装置。实验测定了C30950E带前放Si-APD探测器在常温下的工作特性参数：较佳工作电压308V，电压响应度8.6×105V/W，噪声等效功率1.30×10-14W/(?)HZ，与厂家给出参数具有较好的一致性，这充分说明了测试方法和装置的可靠性。

光电现象  电磁辐射（可见光、紫外线、X 射线或γ射线）投射到物体（气、液、固）上被物体吸收，使这物体的电性质发生变化的现象。它主要包括光电效应、光电离现象、光电导现象、光生伏打效应、俄歇效应、康普顿效应、光核效应。 

纯金属的逸出功都比较高，它不但与材料有关，还与金属表面状态有关。掺杂与表面化学处理是降低材料逸出功的一些具体办法。绝缘体与半导体中电子的能量分布不同于金属的，逸出功也和金属的不同。结果，人们发现不同材料，尽管逸出功相同，其光电产额（光电子数与入射光子数之比）和入射光子的能量关系并不一样。

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