KM4410静态位移校验仪

KM4410是一种便携式效验设备，可用于现场或实验室。主要用于电涡流位移传感器静态特性的标定及电涡流位移传感器配套位移测量仪表的标定。

校验参数位移

校准精度：百分表精度技术指标

校准范围：0 ～ 25mm         0 ～ 35mm     0 ～ 50mm

试件材料：40CrMoA

试件直径：Φ 75mm 或Φ 105mm 最大校准探头：
Φ 25 mm

试件直径：Φ 105mm 或Φ 125mm 最大校准探头：Φ 35 mm

试件直径：Φ 150mm 或Φ 175mm 最大校准探头：Φ
50 mm