厂商 :北京天顿工程设备有限公司
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TK04热导率仪厂家价格
中国总代理销售 (肖衡:136 2133 8042 )
TK04是为快速、高精度的热传导率的试验而设计。稳定状态的方法是很浪费时间的,传统的暂态方法不能满足精度的要求。TK04的设计是基于广泛应用的瞬态热线法测量材料热导率。一种已经被开发的实现了±2%完美精度和不需要任何参考或校准测试的新型分析方法。应用范围包括固体,碎片,粉和粘性液体。
结果质量分析:图形软件可使用户监控干扰
综合软件包多用户授权
软件的控制操作
TK04在任何电脑或笔记本上的windows窗口通过软件控制运行。
在配置和开始一系列测量后,它可以无需任何用户交互,使用选定的设置进行达 99 连续测量。
显示屏幕上可以监视具体的测量过程,在完成每个单独的测量后,会立即算出数据并显示结果。
测量数据和计算结果被保存到文件夹和测量系列中(MS)。为进一步处理TK04计算和图形软件或第三方应用程序访问数据库。TK04软件包包括用于计算、文档和结果质量分析的强大的绘图工具。
服务与支持
仪器的质保期为2年,探针质保期6个月。在这段时间内硬件缺陷可以免费修复。价格包括对设置、 安装和软件问题的无限期支持。
技术参数
型号: 高精度热导率仪TK04
测量原理: 动态热线法(针式传感器)
测量范围: 0.1~10 Wm K (取决于传感器)
精度: ±2%(传感器dependent)
再现性: ± 1.5%
加热器电流精度:±0.01%
每次测量时间: 一般为80秒(取决于传感器)
自动重复次数:可达99次
样品尺寸: 任意形状,无上限,最小尺寸取决于传感器*
工作温度: 0~45°C
样品温度: 0~70°C(-20~150°C可定制)
电源: 220/240 V AC(50 Hz);100/120 V AC(60 Hz)
功率: 40W
尺寸: 471 x 147 x 391 mm(W x H x D)
重量: 13 kg(测量单元)
接口: RS232串行接口(COM端口)
*最小样品尺寸取决于传感器类型和尺寸。
测量套件
TK04热导仪
半空间(HLQ)和/或全部空间(VLQ)探针
参考资料
软件包(测量,计算,图形,质量分析)
连接线
接触液体
手册
可选项
标准尺寸的试验探针(全空间或半空间)
mini半空间试验探针
现场应用探针
参考资料
碎片和粉末的样品箱
半空间测试的压力装置
安全探针插入导管
TK04探针和样品
TK04探针的种类
不同种类的探针可以被连接到TK04。所有的探针包括一个加热装置和一个嵌入在一个金属管温度传感器,称为源,其尺寸取决于预期的用途。在半空间探测器,源被嵌入在一个不导电探针本体底部。所有的探针都有坚固的设计,防潮和预先校准和完全免维护。
全空间探针(VLQ)
全空间探针VLQ(标准探针)被插入样品中,所以源将会完全的被样品材料所包围。准备工作要求一个与源的直径和长度匹配钻孔。推荐使用解除液体(被包含在TK04的测量套件中)
标准全空间探针(? 2 mm, L 70 mm 无手柄)
半空间探针(HLQ)
一个半空间的源被安装在样品的顶部,一边与材料接触并要求平滑的表面。应用适当的接触压力(作为选择,带有限压的压力装置室可用的)
右:标准的HLQ半空间探针
左:Mini HLQ 半空间探针
选择合适每种样品材料的探针
TK04的设计是用来测试固体(如土壤样品,岩石,塑料,玻璃,陶瓷,建筑材料,木材或食物),粉末,碎片,粘性液体和在0.1 to 10 W m K 范围内的原位测试。除了非常少的限制,所有的探针类型能被用于所有的材料。因此,可以根据样品的尺寸和制备要求来选择探针。
碎片和粉末
碎片和粉末的热传导率是取决于所谓的两阶段测试。样品原料与已知热导率的液体混合在一起(通常是水)并且混合物的热导率是可被测量的。然后样品材料的可以根据测试结果计算得出。液体的已知热导率和固体材料与液体的混合物中的体积份额。对于两阶段测试,标准半空间探针的样品箱是可用的。
对于所有的HLQ测试推荐使用压力装置来确保探针和样品间的良好接触。
校准和参考标准
TK04 使用一种绝对的导热系数测定方法,无需参考和校准测试,TK04测试套件包括一份参考样品来偶尔检查仪器和探针。附加参考样品材料作为可选项可用。
探针参数
名称:标准VLQ
探针类型:全空间/ 实验室
尺寸:L 70 mm ? 2 mm
测试范围:0.1 to 10 W m-1 K-1
精度:±2%
1 次测量的持续时间:80 s
最小样品尺寸:大约L 75 mm ? 30 mm
名称:现场VLQ
探针类型:全空间/ 现场
尺寸:L 300 mm ? 6 mm
测试范围: 0.6 to 4 W m-1 K-1
精度:±5%
1 次测量的持续时间:240 s
名称:标准HLQ
探针类型:半空间/ 实验室
尺寸:? 88 mm, H 30 mm
测试范围:0.3 to 10W m-1 K-1
精度:±2%
1 次测量的持续时间:80 s
最小样品尺寸:大约? 80 mm, H 15 mm
名称: Mini HLQ
探针类型:半空间/ 实验室
尺寸:? 50 mm, H 30 mm
测试范围:0.3 to 3W m-1 K-1
精度:±5%
1 次测量的持续时间:60 s
最小样品尺寸:大约? 50 mm, H 15 mm
TK04测量和评估软件
TK04 软件包
TK04在MS Windows窗口下由软件控制运行。测试套件包括:无限制电脑数量的多用户授权。测量/ 评估和绘图/质量分析模块能够被独立安装和使用
测量配置
测量软件带有所有测量和评估参数的一整套的被预定义的默认值,覆盖不同样品材料和测量条件的广泛的范围。高级的用户可自定义设置,以满足他们
个人的需求。
完全自动化
在配置和开启测量系列软件后,仪器可完全由选定的设置的软件操作,不需要人任何用户交互,在测试中,已注册的温度上升在测试窗口中实时被绘制。
漂移控制和漂移校正
TK04连续监测单次测量前和单次测量中的样品的热状态来确保样品温度在测试前是完全恒定的。软件可以校正温度漂移以及通过前面测量造成的冷却过程。在漂移阶段,样品温度,当前温度漂移和漂移记录都能在屏幕上显示。
数据储存和处理
测试数据和计算结果以标准的文件格式被储存(MS访问文本文件)。对于用于TK04评估和绘图软件以及用第三方程序进行进一步处理。测试软件可以自动启动一个外部应用程序并在测量系列完成后传输用户定义参数
自动和手动计算
在完成单次测试后,数据被立即计算并在屏幕上显示。在完成测试系列后,附加计算可以被生成,查看,输出和打印。对于初学者,软件对于广范围的样品材料和测试条件提供标准可用参数,然而高级用户可以选择单独的参数来匹配他们特定的测量任务。
新开发的分析评价方法
TK04用一种分析方法用于计算,以根据被样品材料包围的不断热线源加热方程式的理论解决方案来确定热导系数。这个方程的近似方案适用于被测量的温度曲线以及根据拟合系数计算热导率值。对比实证方法,分析方法产生的绝对值,因此不需要参考材料和校准测试。
计算的改进
如果绘图依据对数时间范围,通常近似的方法简单的认为温度上升是线性的,TK04采用新开发的高阶方法考虑到实际特性的非线性曲线形式温度曲线。新的计算方法能达到更好的精度(± 2%).
当计算半空间测试时,TK04自动确定热量损失在探针的半空间里并且应用探针独立的校正,在测量精度内从半空间或全空间测试确保完全相同的结果
TK04绘图软件和质量分析
文档和质量分析
绘图软件TkGraph通过TK04软件产生的结果文件中测试结果生成平面图。服务于文件测试系列和单次测试以及形成使大多数常见错误都对用户可见的质量分析基础。
TK04热导率测试被用来进行高达99 次单一测试的测量系列。概要图是基于总结完整系列结果的TC列表文件
测量系列的散点图可以被作为热干扰指标,样品准备量不足或测量参数不适当。在最佳条件下,散点图通常保持在± 0.5%(最高点)。如果它达到了± 5%(最低点)你应该检查测量条件。
计算时间间隔的位置和长度
TK04 软件可以自动检测热导率测定的最优时间间隔。如果时间间隔很短和/或在温度上升时(最高点)定位相对较晚,这些热干扰,探针与样品间的接触不良或探针的尺寸过小。在一个良好的测量系列中,时间间隔很长而且很早开始(最低点).
最佳计算时间间隔
典型的干扰作用(如探针与样品间的接触不良)可以通过与被测量的温度曲线理论值的对比来发现。TK04软件自动地确定被测量的温度上升的部分,最好对应于通过扫描长度和开始时间小步骤的计算时间间隔增加的理论。相似性是由所谓的LET值来衡量,这是通过拟合测量数据的理论曲线获得的系数来计算的:LET值越高,形状越相似并且在时间间隔问题中确定的热导率值越准确。
除了最佳间隔,从所有时间间隔计算出的热传导率值有最小的LET值。对于质量分析,单次测量图显示对于热导率温度曲线图的所有时间间隔计算的LET值。不受干扰的测量显示特征的渐进模式(如左图)顶部为最佳值。其他的分布模式表明不同类型的干扰。中间图:探针与样品接触不充分。右图:样品边界的热波反射。
软件要求
操作系统: Windows 98, Me, 2000, XP, 7
CPU / RAM: 1 GHz / 512 MB or higher
显示屏分辨率: 1280 x 1024 或更多
中国总代理销售 (肖衡:136 2133 8042 )
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