PCT老化试验箱PCT-35宇捷制造

供应PCT老化试验箱PCT-35宇捷制造专家

规范要求

PCT老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

安全保护装置

A、误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.

B、超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压.

C、超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.

D、防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.

E、手动安全保护排压伐.

半导体测试

PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。