日本RST-231电阻式膜厚仪最新上市

日本RST-231电阻式膜厚仪最新上市

产品介绍
供应日本RST-231电阻式膜厚仪最新上市，RST-231采用4探针探头（kelvin式），不受双面板和金属板之里层及内层影响，可得到高精度测量。

日本RST-231电阻式膜厚仪规格参数：

1．测量范围：         2～24μm、10～120μm 

2．测量面积：         标准6∮mm ，微型3∮mm

3．测量单位：         多种英制公制可切换

4．测量对象：         非金属上的金属膜厚

5．本体尺寸：         280（W）*88（H）*230（D）mm

6．本体重量：         3.0kg

7．使用电压：         AC110V（220V）/50,60Hz

日本RST-231电阻式膜厚仪特点：

1.绝缘物上的金属镀层（印刷基板上的铜箔、电镀等）都能在极短时间内（0.7秒）得到高精度测量。

2.采用4探针探头（kelvin式），不受双面板和金属板之里层及内层影响，可得到高精度测量。

3.应用计算机操作画面大、明亮、清晰。

4.校正、测定、操作很简单，可选择2种测量范围，可测2~120um的金属镀层。

5.使用者姓名、批号可登录在频道内，共有40个频道可以登录且有利于做频道的管理。

6.每个频道的测量数据可以被储存下来，测量资料亦可以被其所设定之统计项目执行统计处理。

7.统计处理、柱状图、分布图、×-R管制图，随时可查阅。

8.可设定膜厚上下限管制，对异常值会提示告知。

9.探头的探针破损时，可以更换探针并以低价修理。