夏比投影仪

 一、CST-50型冲击试样缺口投影仪概述
    1、本投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，CST-50型冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
    2、对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45o角且试样缺口尖端要求R0.25±0.25），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口尖端的微小变化（其公差带只有0.25mm）都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，对缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。

二、CST-50型冲击试样缺口投影仪技术参数：