三维调节探针臂

CB-700

CB-100

CB-40-T

CB-40

亚微米电路/射频测试针座

亚微米电路/射频测试针座

电路/射频测试针座

I/O Pad/ Electro -Optics光电测试针座

特点

亚微米工艺集成电路电路测试

亚微米工艺集成电路电路测试

线性移动

价格实惠

线性，无后座力移动

线性，无后座力移动

I/O Pad 点测

线性移动

可以配合同轴/三轴探针夹具使用

可以配合同轴/三轴探针夹具使用

电路点测

I/O Pad 点测

夹具可以30度范围倾仰

夹具可以30度范围倾仰

射频测试

光电器件点测

可以使用钨探针

可以使用钨探针

较小的体积

体积小

可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座

可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座

可以配合同轴/三轴探针夹具使用

可以配合同轴/三轴探针夹具使用

射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz

射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz

可以配合使用校准片和校准软件

可以配合使用校准片和校准软件

探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头

探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头

探头可以拆卸维修

探头可以拆卸维修

带射频测试线固定装置

带射频测试线固定装置

规格

X-Y-Z方向行程

X-Y-Z移动行程

X-Y-Z移动行程

X-Y-Z移动行程

8 x 8 x 8mm

12 x 12x 12mm

12 x 12 x 12mm

12 x 12 x 12mm 

 线性移动

线性移动

 线性移动

线性移动

丝杠精度

丝杠精度

丝杠精度

丝杠精度

700 Thread / Inch

100 Thread / Inch

80 Thread / Inch

40 Thread / Inch

移动精度

移动精度

移动精度

移动精度

0.1 微米

0.7 微米

2 微米

10 微米