KROHNE科隆仪表物位测量

科隆在物位测量技术领域拥有其独特的专业知识。除了标准的应用条件，我们也在极具挑战性和需定制解决方案的应用条件下展现我们的能力。对我们来说，在研发阶段我们就以客户为导向。因此，由我们和客户合作开发的许多产品成为了目前的工业标准。

今天，用户从科隆的创新中获益：1990年，科隆开发的第一台过程控制级雷达物位计成为了雷达物位测量的先驱。1995年，科隆成为运用以TDR（时域反射）为原理的导波式电磁脉冲雷达物位计的先行者。2004年，随着OPTIWAVE和OPTIFLEX的开发，市场上出现了新一代的雷达物位计和TDR产品。

这些设备的特点是在极其困难的环境下也能拥有极高的精度和可靠性。全系列的物位开关圆满了科隆的物位组合。即使在具有挑战性的应用中，例如，在极高的温度和压力下，科隆也能为客户提供相应的解决方案。