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商品详细描述
二次元测量与三次元测量的直线度误差的检测一般可以采用“与理想要素比较原理”、“三次元测量测量特征参数原理”和“担制实效边界原理”等，其中“与理想要素比较原理”应用最多，三次元测量这时标准直线常采用以下三类形式来体现。
金属材料或毛胚经过磨削、刮削、研磨、抛光等精密加工后所形成的刃、棱、导轨、玉面或被拉紧的细钢丝等，都可被作为“标准直线”。属于这类的量具有刀口尺、三棱尺、棱尺、平尺、平晶、精密平板和拉紧的钢丝等。
利用几何光学或波动光学的性质构成的“直线标准”利用几何光学原理制成的准直仪类（包括自准直仪、准直望远镜、光电自准直仪和激光}直仪筹）的光轴来体现“标准直线”。利用波动光学的光程差变化来测出直线度误差的仪器干涉仪类（包括杨氏干涉装置、激光影像测量准直干涉装置、单频激光干涉仪和双频激光干涉仪等）。
利用水平面物理性质或重力的性质构成的标准直线利用2.5次元测量水平面物理性构成的仪器称为水平仪类（包括钳工水平仪、框式水平仪、二次元测量和柱形电极水准器电子影像测量水平仪等）。
三次元测量的测量方法
由于直线度误差分为给定平面内、给定方向和任意方向直线度误差的不同，被测对象|结构、尺寸大小、精度要求和加工方法等的不同，所采用的测量方法也就会有很大的差别，另外，科学技术不断发展，新测量原理的仪器和测量方法会不断出现，我们这里只对常用几种测量方法给予介绍。
光隙——光隙法是使用样板直尺或刀口尺、三棱尺、四棱尺、平尺与被测表面贴切，由样板直或平尺的理想直线与被测表面实际线的最大间隙确定直线度误差值的方法。
打表法－－采用这种方法测量时，常以精密平板或标准尺体现理想直线。2d影像测量是在精密平板上连光隙法测量直线度示例或地或定距间断地移动指示表表座，由指示表读出测件相对平板或平尺的直线度误差。所月平板或平尺的平面度误差和指示表的示值误差之不大于被测件直线度公差要求的1/3～1／5。
干涉法是利用光的等厚干涉原理，以平面平晶为标准时行测量方法，三次元测量测量时使平晶与被测量面形成微小楔形空气隙，在光源照明下即可看到等厚干涉条纹。调整平晶使进干涉条纹呈，沿整个被测面以平晶半径为步长理所得数据。如果被测长度小于平晶直径，则可直接从干涉条纹的弯曲度测出直线度误差值。
三点悬臂法测量装置实际上是一个简单的表架，指示表测头与两个支脚是三点等距分布。它的测量原理是以两支承点的连线作为标准直线测量第三点对于此连线的偏差。测量前，把此连线装置放在平尺或平板上，每移动一个L的距离，读取一个讲读数。移动时，前一次的测量点位置，就是后一次测量的一种方法。
金属材料或毛胚经过磨削、刮削、研磨、抛光等精密加工后所形成的刃、棱、导轨、玉面或被拉紧的细钢丝等，都可被作为“标准直线”。属于这类的量具有刀口尺、三棱尺、棱尺、平尺、平晶、精密平板和拉紧的钢丝等。
利用几何光学或波动光学的性质构成的“直线标准”利用几何光学原理制成的准直仪类（包括自准直仪、准直望远镜、光电自准直仪和激光}直仪筹）的光轴来体现“标准直线”。利用波动光学的光程差变化来测出直线度误差的仪器干涉仪类（包括杨氏干涉装置、激光影像测量准直干涉装置、单频激光干涉仪和双频激光干涉仪等）。
利用水平面物理性质或重力的性质构成的标准直线利用2.5次元测量水平面物理性构成的仪器称为水平仪类（包括钳工水平仪、框式水平仪、二次元测量和柱形电极水准器电子影像测量水平仪等）。
三次元测量的测量方法
由于直线度误差分为给定平面内、给定方向和任意方向直线度误差的不同，被测对象|结构、尺寸大小、精度要求和加工方法等的不同，所采用的测量方法也就会有很大的差别，另外，科学技术不断发展，新测量原理的仪器和测量方法会不断出现，我们这里只对常用几种测量方法给予介绍。
光隙——光隙法是使用样板直尺或刀口尺、三棱尺、四棱尺、平尺与被测表面贴切，由样板直或平尺的理想直线与被测表面实际线的最大间隙确定直线度误差值的方法。
打表法－－采用这种方法测量时，常以精密平板或标准尺体现理想直线。2d影像测量是在精密平板上连光隙法测量直线度示例或地或定距间断地移动指示表表座，由指示表读出测件相对平板或平尺的直线度误差。所月平板或平尺的平面度误差和指示表的示值误差之不大于被测件直线度公差要求的1/3～1／5。
干涉法是利用光的等厚干涉原理，以平面平晶为标准时行测量方法，三次元测量测量时使平晶与被测量面形成微小楔形空气隙，在光源照明下即可看到等厚干涉条纹。调整平晶使进干涉条纹呈，沿整个被测面以平晶半径为步长理所得数据。如果被测长度小于平晶直径，则可直接从干涉条纹的弯曲度测出直线度误差值。
三点悬臂法测量装置实际上是一个简单的表架，指示表测头与两个支脚是三点等距分布。它的测量原理是以两支承点的连线作为标准直线测量第三点对于此连线的偏差。测量前，把此连线装置放在平尺或平板上，每移动一个L的距离，读取一个讲读数。移动时，前一次的测量点位置，就是后一次测量的一种方法。
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