元素检测仪

Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求，畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置！
在所有机型上配备全新的测定，解析功能！追求更高的分析精度。
标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
结构紧凑的台式机，主机尺寸为W580×D650×H420mm。
样品图像观察采用CCD装置，便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度最薄至0.005微米，可分析3层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量时间：60s-200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
测量对象状态：粉末、固体、液体
标准配置
卤素测试高效X光管
S100探测器
信噪比增强器 SNE
卤族测试专用配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏