厂商 :上海市精威科技有限公司
上海 上海- 主营产品:
- 膜厚仪
- 光谱仪
- 元素测试仪
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商品详细描述
应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。
X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求,畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置!
在所有机型上配备全新的测定,解析功能!追求更高的分析精度。
标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
结构紧凑的台式机,主机尺寸为W580×D650×H420mm。
样品图像观察采用CCD装置,便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度最薄至0.005微米,可分析3层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量时间:60s-200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA
测量对象状态:粉末、固体、液体
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。
X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求,畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置!
在所有机型上配备全新的测定,解析功能!追求更高的分析精度。
标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
结构紧凑的台式机,主机尺寸为W580×D650×H420mm。
样品图像观察采用CCD装置,便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度最薄至0.005微米,可分析3层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量时间:60s-200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA
测量对象状态:粉末、固体、液体
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