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商品详细描述
一、 统计制程管制(SPC)之基本概念 | ||||||
1) SPC的演进回顾 | ||||||
2) 基本统计手法的定义 | ||||||
2.1正态分布(Normal Distribution) | ||||||
2.2群体VS样本 | ||||||
2.3正态分布曲线下的面积 | ||||||
2.4描述制程变化的量 | ||||||
2.5群体与样本标准差 | ||||||
二、 管制图基本原理及其应用 | ||||||
1) 制程变异的来源与制程的两种类型 | ||||||
2) 变异的两种原因及比较 | ||||||
3) 管制图的原理 | ||||||
4) 两类错误的对比及关系 | ||||||
5) 资料的分类 | ||||||
6) 规格界限与管制界限 | ||||||
7) 管制图的种类及选择 | ||||||
三、 常用管制图之绘制及其原理 | ||||||
1) X-R、X-S、X-Rm、P-Chart、C-Chart管制图及绘制步骤 | ||||||
1.1以上管制图的应用范围 | ||||||
1.2如何确定管制特性 | ||||||
1.3资料的收集及分组 | ||||||
1.4计算平均值及全距 | ||||||
1.5计算管制界限 | ||||||
1.6绘制管制图 | ||||||
1.7管制图的判读 | ||||||
2)两大类型管制图的比较 | ||||||
四、 管制图的稳定状态的判定 | ||||||
1) 管制图判定原理 | ||||||
2) 不稳定状态的模式 | ||||||
2.1模式一 点子靠近管制界限 | ||||||
2.2模式二 链 | ||||||
2.3模式三 间断链 | ||||||
2.4模式四 倾向 | ||||||
2.5模式五 点子集中在中心线附近 | ||||||
2.6模式六 点子呈周期性变化 | ||||||
2.7判稳定的准则 | ||||||
五、 制程能力分析及提升 | ||||||
1) 什么是制程能力 | ||||||
2) 制程能力指数Cp | ||||||
3) 三种类型情况 | ||||||
4) Cp的评估标准 | ||||||
5) 有偏移时的制程能力指数CpK | ||||||
6) 什么是制程绩效指数Pp | ||||||
7) 有偏移时的制程绩效指数PpK | ||||||
8) Cp与Pp的对比及应用及联合使用 | ||||||
六、SPC第二版新增要求说明.SPC专案改善技巧 | ||||||
SPC专案改善效果评估 | ||||||
SPC体系标准化程序 | ||||||
七、过程能力研究 | ||||||
过程能力研究的前提条件 | ||||||
过程能力指数的分类 | ||||||
过程能力指数的分级 | ||||||
过程能力指数与不合格品率之间的关系 | ||||||
Minitab SPC过程能力分析 |
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