二次靶轻元素材料分析仪

厂商 :无锡瑞迪声科技有限公司

江苏 无锡
  • 主营产品:
  • 轻元素检测仪
  • 超低硫检测仪
  • 贵金属检测仪
联系电话 :18914161625
商品详细描述
拥有专利技术的广角几何(WAG),400W X光管,60 kV发生器,8个二次靶,8款滤光片,高分辨率硅漂移探测器完全满足轻元素检测的要求。X-7600SDD LE的问世使得元素周期表中所有元素的检测都能得到最佳结果。
X-7600SDD LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中,引进专利技术,重新定义了“最先进”的概念。 它为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案,同时,为商业实验室分析提供了一种低成本、高效益的选择。
以高精度、sub-ppm检测精度为特色,在环保、地质和贵金属检测领域中,不管是轻元素还是重元素分析,X-7600SDD LE与其他分析仪器相比都具有更加卓越的检测性能。这是研究与开发领域中最理想的系统。
X-7600SDD LE 提高了轻元素检测的精度,例如:F、Ne、Na

X-7600SDD LE,使用先进的SDD探测器,具有低电子噪音和高计数率的特点,与 Si-Li 探测器(液氮冷却)相比具有更高的分辨率,能更快的得到检测结果。
8个二次靶为快速精确的定量分析提供了最大的灵敏度,即使是是在一些复杂的基质中,例如:合金、塑料和地质样品。可定制的靶为了达到ppb级的检测极限。
X-7600 LE 能检测液体、固体、浆状、粉末状,片状样品,样品室能容纳不同形状和尺寸的样品。
F(9) - U(92) ——使用极薄的高分子聚合物探测窗
ppb - 100%
Rh – 阳极标准 (mo, W, ag, cr 可选).
60kV, 400W. 10-5000?a (in 1?a increments).
直接激发或二次靶激发
室温条件下精确到0.1%
高分辨率硅漂移探测器(SDD),极薄的高分子聚合物探测窗,热电冷却,避免使用液氮冷却
能在1.6us的峰优化操作时间内达到123ev的最佳分辨率,出色的结果可以通过大范围的输入计数率
传送,在更短的峰操作时间内,高计数率能被处理。
10 个位置 (18 个位置可选).
空气/真空/ 氦气.
8款软件可选.
8款软件可选: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
 115 Vac /60 Hz 或 230 Vac /50 Hz.
多信道分析
专利广角几何(WAG)
未包装 85 x 85 x 105, 含包装 145 x 95 x 135.
150kg (净重), 200kg (总重).
直径28cm, H=5cm.
集成计算机
nEXt, 运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。
样品激发,探测,样品操控,数据采集及处理的自动控制。
逃逸峰及背底的自动去除,自动重叠峰解析,图解式统计报告。
考虑共存元素效应的多元素回归法(六种模式)。总计数,净计数拟合及数字滤波器法。
用户可自定的数据报表及打印形式
18样品的旋转式自动给样系统,样品旋转机制,专业的基本参数算法。
相关产品推荐