Sigma探针-表面分析产品

Sigma探针
Thermo Scientific* Sigma 探针结合了小光斑XPS分析和多样品无人值守操作分析能力。
小区域特征和缺陷表面分析对于了解先进材料成分或性能至关重要，Sigma探针提供这些特征的精确和准确分析功能。微聚集X射线单色器确保小区域特征在尽可能高的灵敏度条件下进行测试分析。大样品台和电机驱动允许多样品无人值守操作，与强大的Avantage数据系统相结合，最大限度地提高了在繁忙实验室中样品的测试通量。
XPS是众多材料特性表征技术中行之有效的测试手段，目前已成为从生物材料到半导体材料等许多技术领域先进材料开发的重要工具。Sigma探针为小面积（低至15µm）提供了高灵敏高分析。自动化样品台提供了多样品无人值守操作——样品通量最大化。
主要特征
高性能XPS仪器使用大角度电子收集，确保高收集效率
X射线单色器用户可选光斑范围15µm至400µm
安装大样品或多个样品功能
基于Windows的Avantage数据系统控制
CCD样品校准显微镜垂直于样品表面
透镜、能量分析器和检测器
电磁透镜大角度（60°）收集光电子
180°球型能量分析器在输出板位置配置六通道检测器，提供一个大的线性计数率范围
X射线光源
所有Sigma探针仪器均配置微聚集单色器
分析区域面积可调， X射线光斑选择范围15µm至400µm
深度剖析
数字化控制的EX05离子枪是一款高性能的离子源，可用于提供优异的深度剖析测试——即便使用低能离子
样品多方位旋转可用于高性能的深度剖析测试
样品安装
所有Sigma探针仪器均配置电机驱动五轴样品台
样品台可安装大样品——移动范围X轴和Y轴70mm，Z轴（高度）25 mm
真空系统
分析室使用5毫米厚钼合金材料制造，最大限度地提高磁屏蔽效率
样品制备
如需要，仪器可以配置一个制备室
Thermo Scientific表面分析仪器和部件由Avantage数据系统控制：
软件集成了测试分析的所有方面，包括仪器控制、数据采集、数据处理和报告生成
基于Windows的软件包，可以通过网络远程控制，轻易实现与第三方软件如微软Word软件兼容
负责从样品分析到报告生成整个测试分析过程