纳米粒度/Zeta电位分析仪

   SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪

 
高灵敏度、高精度的测量                         
全方位表征单一体系纳米尺度粒子
完全解析纳米粒子的物质结构

技术参数：
■  粒子直径测定
  ●  超宽动态光散射测量范围:　0.3nm～8000nm
  ●  通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。
  ●  在单一纳米粒子专用光学系统中，采用更低杂散光90°检测光学系统。
  ●  双光路系统（90°和173°）适用于更宽浓度范围的样品测量，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。
■  Zeta电位测定
  ●  通过安装HORIBA自主研发的标准微型样品池，可以测定仅100μL的样品。

■  主要特点：    
     ●  超小体积设计
     ●  可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量。
     ●  样品浓度从PPM到百分之几十，SZ-100都能在原液状态下取样和测定。
     ●  HORIBA自主研发的微量电泳样品池， 可以测定仅100μL的Zeta电位。
     ●  广泛应用于胶质粒子、 机能性纳米粒子、 高分子、胶束、 核糖体、 纳米囊等的测定。
     ●  操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果。