厂商 :厦门市森态仪器仪表有限公司
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MC022系列薄膜测厚仪(CH-1-S) |
MC022系列薄膜测厚仪 MC022系列(CH-1-S) 一、CH-1-S型薄膜测厚仪概述: CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。 二、CH-1-S型薄膜测厚仪主要参数: 1. 量程:0 2. 上测头曲率半径:15 3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N 4. 测量精度:100vm以内<1vm 100-250vm<2vm 250vm<3vm |
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