简介 |
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应用范围:配置透反射显微镜,适用于冶金、电子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、医药、金属、非金属矿等各种粉体颗粒的形貌观察和粒度分析;还可用于陶瓷.金属合金等各种不透光的物体表面结构的观察测试。
主要性能:光学显微镜放大成像,专业级摄像头,高速高分辨率图像采集卡,图像动态快速显示于电脑,直接观察粉体颗粒的形貌,专用软件进行粒度分析。全平场消色差物镜,最大分辨率0.07微米,最大光学放大倍数1600倍,图像显示和打印最大倍数4000倍(A4幅面)。
测量范围: 0.5μm~2000μm
测量方法: 透射:将样品置于载玻片上,运行专用软件,由电脑分析处理,计算数据。 反射:将样品置于物镜下方,运行专用软件,由电脑分析处理,计算数据。
分析软件:提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据,配有多种图像分析和处理功能,可以满足各种图像处理需要。
图像分析处理: 1.色调处理:负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整; 2.图像矫正:水平镜像、垂直镜像、90度(逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小、任意比例缩放等; 3.测量单位:微米、毫米、厘米、英吋任选; 4.图像增强:对比度均衡、膨胀、腐蚀等; 5.图像处理:图像锐化,边缘平滑,二值化,边界滤波,分析目标擦除、孔洞填充,手工擦除,手工连接,粒子属性查看、设置标尺、网格等功能; 6.分析参数: (1)几何参数:每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置,像素; (2)当量几何参数:等面积圆直径,等周长圆直径,长径,短径,长径比; (3)外接几何参数:每个颗粒的外接圆直径; (4)光密度参数:图像 R、G、B、灰度分布; (5)形态学参数:长径比,圆度系数;
测量结果:颗粒形貌可存盘打印,还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求,设计磨料、 硅灰石等专用软件。
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处理功能图示: |
图像采集:可调整图像高度、宽度、分辨率等。 |
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