厂商 :西安丰登光电科技有限公司
陕西 西安- 主营产品:
- 超声波探伤仪
- 红外光谱仪
- 直读光谱仪
联系电话 :18700442184
商品详细描述
仪器简介:
手持式矿石元素分析仪
S1 TURBOSD手持式矿石分析仪是矿石元素分析的理想设备。
分析速度快,精度高,实现了现场分析地质化学成份,如矿石表面,岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样,可直接评估矿石级别,立时获得分析结果,不仅大大提高了生产力和生产进度,而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
SDD探测器的计数率和分辨率,远高于SI-PIN检测技术,分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低,结合FP校准模式,可检测所有矿石样品。
还可分析土壤、沉淀物、岩芯等样品的化学成份。
可选台式支架确保辐射安全,对特殊样品(如袋装的)进行测量,以保护环境。
对矿石开发与含量分析进行快速、精确分析
野外操作时,自由携带,非常方便
技术规格
重量 1.5kg
尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源 X射线管,Ag靶,40kV
检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;
能量分辨率高:145eV, 计数率:100 kcps
冷却系统 Peltier半导体冷却系统
电源 交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时
工作条件 温度:-20℃~+55℃ 湿度:0~95%
电池充电器 交流充电器:110/220V,50/60Hz
计算机/显示器 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输 USB,无线蓝牙,SD卡
数据存储 主机:512MB
存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据
热表面适配器 热表面适配器,可测量500℃高温样品
安全 密码保护,设有多级安全锁
运输箱 减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言 包括中、英文在内12种语言(用户自选)
质保期
获得认证 整机2年
CE、TUV、IECEE、ISO9001
技术参数:
重量 1.5kg
尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源 X射线管,Ag靶,40kV
检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;
能量分辨率高:145eV, 计数率:100 kcps
冷却系统 Peltier半导体冷却系统
电源 交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时
工作条件 温度:-20℃~+55℃ 湿度:0~95%
电池充电器 交流充电器:110/220V,50/60Hz
计算机/显示器 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输 USB,无线蓝牙,SD卡
数据存储 主机:512MB
存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据
热表面适配器 热表面适配器,可测量500℃高温样品
安全 密码保护,设有多级安全锁
运输箱 减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言 包括中、英文在内12种语言(用户自选)
质保期
获得认证 整机2年
CE、TUV、IECEE、ISO9001
主要特点:
分析速度快,精度高,实现了现场分析地质化学成份,如矿石表面,岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样,可直接评估矿石级别,立时获得分析结果,不仅大大提高了生产力和生产进度,而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
手持式矿石元素分析仪
S1 TURBOSD手持式矿石分析仪是矿石元素分析的理想设备。
分析速度快,精度高,实现了现场分析地质化学成份,如矿石表面,岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样,可直接评估矿石级别,立时获得分析结果,不仅大大提高了生产力和生产进度,而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
SDD探测器的计数率和分辨率,远高于SI-PIN检测技术,分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低,结合FP校准模式,可检测所有矿石样品。
还可分析土壤、沉淀物、岩芯等样品的化学成份。
可选台式支架确保辐射安全,对特殊样品(如袋装的)进行测量,以保护环境。
对矿石开发与含量分析进行快速、精确分析
野外操作时,自由携带,非常方便
技术规格
重量 1.5kg
尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源 X射线管,Ag靶,40kV
检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;
能量分辨率高:145eV, 计数率:100 kcps
冷却系统 Peltier半导体冷却系统
电源 交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时
工作条件 温度:-20℃~+55℃ 湿度:0~95%
电池充电器 交流充电器:110/220V,50/60Hz
计算机/显示器 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输 USB,无线蓝牙,SD卡
数据存储 主机:512MB
存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据
热表面适配器 热表面适配器,可测量500℃高温样品
安全 密码保护,设有多级安全锁
运输箱 减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言 包括中、英文在内12种语言(用户自选)
质保期
获得认证 整机2年
CE、TUV、IECEE、ISO9001
技术参数:
重量 1.5kg
尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源 X射线管,Ag靶,40kV
检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;
能量分辨率高:145eV, 计数率:100 kcps
冷却系统 Peltier半导体冷却系统
电源 交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时
工作条件 温度:-20℃~+55℃ 湿度:0~95%
电池充电器 交流充电器:110/220V,50/60Hz
计算机/显示器 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输 USB,无线蓝牙,SD卡
数据存储 主机:512MB
存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据
热表面适配器 热表面适配器,可测量500℃高温样品
安全 密码保护,设有多级安全锁
运输箱 减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言 包括中、英文在内12种语言(用户自选)
质保期
获得认证 整机2年
CE、TUV、IECEE、ISO9001
主要特点:
分析速度快,精度高,实现了现场分析地质化学成份,如矿石表面,岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样,可直接评估矿石级别,立时获得分析结果,不仅大大提高了生产力和生产进度,而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
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