红外线发射率测试仪

日本js公司TSS-5X-3 红外线发射率测试仪 可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。是本公司自身的产品。
TSS-5X-3 红外线发射率测试仪早已经由宇 宙开発、原子力、半导体产业等的尖端技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等，可供活用的范围非常广泛。
 
应用：
 
1、在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测量；
2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率；
3、各种零件的加工／处理前后的放射率比较；
4、其他、从零件的放射率求取物体本身的放射率等；
5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。
 
产品构成：
１．红外线照射源（标准黑体）
藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。
２．红外线检验素子
从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。
注：比率是依据光学系的构造来决定。
３．放射率演算回路
从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。
注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r εε＝１－r
４．放射率表示値的校正
利用附属的发射率标准片（ε＝０．０６与０．９４）做校正
测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长：2-22μｍ、8-15μｍ、2-30μｍ（出厂前预订测量波段）
测量范围：0.00-1.00
额定精度：±0.01
测量面积：Φ15mm
测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）
被测物温：10-40℃（室温）
输　　出：0-0.1V，0-1V（满载）
使用温度：10-45℃
使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）
使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz
外型尺寸：探头Φ51X137mm（0.5Kg）     主机H170X W306ｘD230mm（5Kg）
附属装置：发射率标准片0.94、0.06各一片。