TSS-5X-3红外线发射率测试仪

日本TSS-5X-3红外线发射率测试仪也称为TSS-5X红外线放射率测试器，远红外测试仪，本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种材料的表面发射率。

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产品构成：１．红外线照射源藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在材料中集中照射。２．红外线检验素子从材料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。注：比率是依据光学系的构造来决定。３．发射率演算回路从反射能量检验器的输出，演算试料的发射率。注：材料的反射率和发射率的关系式如下：r εε＝１－r４．放射率表示値的校正用发射率标准片（ε＝０．０６与０．９４）做校准.测量原理：利用恒温放射的远红外线发射源，将能量照射后计算所反射的能量。测量波长：2-22μｍ测量范围：0.00-1.00额定精度：±0.01测量面积：Φ15mm测量距离：12mm（固定探头的脚柱部）被测物温：10-40℃（室温）输　　出：0-0.1V，0-1V（满载）使用温度：10-45℃使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz外型尺寸：探头Φ51X137mm（0.5Kg）    主机：H170X W306ｘD230mm（5Kg）配件：发射率标准片0.94、0.06各一片。