污染物分析

广东省华南检测技术有限公司专注于工业CT 检测、失效分析、电子元器件筛选、芯片鉴定、芯片线路修改、晶圆微结构分析、车规AEC-Q可靠性验证、产品逆向设计工程、微纳米测量、金属与非金属、复合材料分析检测、成分分析、配方还原、污染物分析、ROHS检测、有害物质检测、等专业技术测服务， 服务涵盖了半导体、光电子器件、纳米科技、通讯、 新能源、汽车、航天航空、教育及科研等多个领域。华南检测作为独立的第三方检测机构，严格按照ISO 17025:2017标准建立与实施管理，并通过了CMA行政许可，以“科学严谨、求实创新、诚信公正、准确”为质量方针，严格遵守作业程序、执行检验检测标准，始终如一地为高校、企业、科研机构等提供一站式检测服务和专业的解决方案，协助提升产品品质！ 本实验室失效分析常用手段有外观检查、X射线透视检查、CT无损检测、切片分析、超声波扫描显微镜、显微红外分析、扫描电子显微镜分析和X射线能谱分析、光电子能谱（XPS）分析、热点定位分析、芯片开封、FIB聚焦离子束制样测试、压降测试、电性能测试、红墨水试验、可焊性分析、红外光谱分析等手段。 EDS 面扫描分析是电子束在样品表面扫描，试样表面的元素在屏幕上由亮度或彩色表现出来，常用来做定性分析。亮度越高，元素含量越高，结合形貌像常用于成分偏聚、相分布的研究中。从图3中可以看出元素分布的差异，结合形貌图对样品进行定性分析。 能谱EDS的采样深度大约为1 μm，可对试样微区内Be~U范围内的元素进行分析。根据扫描方式的不同可分为点扫、线扫和面扫。点扫和线扫都是对样品的某一位置进行微区元素分析，两者区别是扫描能谱的面积大小不一。点扫可以给出扫描元素的相对含量，测试准确性较高，常用于显微结构的成分分析。面扫是对样品某一区域的元素分布进行观察。 华南检测一般测试流程： 1、客户提供样品背景描述，填写对应委托单。 2、实验室工程师对案件可行性进行评估。 3、业务员提供报价单给客户。 4、签约付款。 5、客户寄样。 6、实验室进行分析。 7、提供报告，答疑。 8、开具票。 9、该失效分析案件结束。 业务咨询热线：13926867016徐工