下照式X射线镀层测厚仪

仪器介绍

EDX600是天瑞公司集多年X射线镀层测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪；仪器硬件采用业内顶尖级配置，同时内置工业级变焦摄像头与高精度XY手动快速定位平台，可实现同一样品不同测试点位的快速切换测试；仪器可对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行精准检测。

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1、GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

  金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2、美国标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

天瑞EDX600技术特点：

测试实例

以下使用EDX600仪器对电子元件（铁镀铜镀镍镀银）测Ag、Ni及Cu层厚度，我们对6号测试点位测试11次，计算其标准偏差和相对标准偏差。

仪器的质量保证措施

1.   管理能力: 本司通过了ISO9001质量体系认证，公司各方面的管理都非常规范。

2.   技术开发能力：本司有独立的研发部门，专门负责产品开发。现有技术开发人员260名，其中高级职称的有3人，技术研发力量非常雄厚。

3.   工艺技术能力：制造部配有5名专业工艺工程师，有专门的产品生产车间，从工艺及工装上能完全保证产品加工质量。

4.   品质控制系统：从原材料入库、各工序加工直到成品包装，每道关键环节均有检测把关，确保每台产品都是在检验合格后才能打包入库。

5.   天瑞仪器公司员工拥有博士5人、硕士27人、本科283人、大专240人，获高级职称的有5人，强大的技术力量和管理能力能保证产品的质量。

厂家研发实力