上照式X射线镀层测厚仪

仪器介绍

天瑞Thick800A型X射线镀层测厚仪采用上照式升降结构，通过精准的三维移动和双激光定位，自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置，可以对凹面和凸面、拐角、弧面等不规则样品进行对焦精准分析，完成下照式对某些特殊样品无法测试的效果。

仪器在测试精度上与进口设备PK不落下风。专业研发的镀层分析软件界面既简洁又直观；结合大量操作经验优化的操作步骤，极大方便用户的操作，测试一个样品用时5-40S，可以测试镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等金属镀层厚度。

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1.GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

  金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美国标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

仪器应用优势

软件界面

测试实例

以下使用Thick800A仪器对PCB线路板测Au及Ni层厚度，11次的结果其标准偏差和相对标准偏差。

天瑞Thick800A质量措施

1.   管理能力: 本司通过了ISO9001质量体系认证，公司各方面的管理都非常规范。

2.   技术开发能力：本司有独立的研发部门，专门负责产品开发。现有技术开发人员260名，其中高级职称的有3人，技术研发力量非常雄厚。

3.   工艺技术能力：制造部配有5名专业工艺工程师，有专门的产品生产车间，从工艺及工装上能完全保证产品加工质量。

4.   品质控制系统：从原材料入库、各工序加工直到成品包装，每道关键环节均有检测把关，确保每台产品都是在检验合格后才能打包入库。

5.   天瑞仪器公司员工拥有博士5人、硕士27人、本科283人、大专240人，获高级职称的有5人，强大的技术力量和管理能力能保证产品的质量。

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