LTE测试卡

产品特点 ★性能稳定，支持热插拔。 ★测试性能卓YUE，可探测SIM卡与手机之间任意管脚的开路及短路。 ★优化了文件结构设计，将文件结构映射到RAM区域，大大提高了手机开机及入网速度 ★多种封装可选，2FF/3FF(Micro)/4FF(Nano) ★支持最新 3GPP协议和MILENAGE ★可同时运行3G USIM应用、GSM SIM应用以及其他应用； ★ 扩展的名片册（号码薄），提供用户个人数据功能 ★ I/O波特率可调（PPS支持）、时钟可调、支持时钟停止节电环保模式 功能：LTE制式USM卡。个性化信息定制:1)ICCID/IMSI/KEY/OPC等数据2）定制电话本/容量3）USIM卡内存大小：32K,64K,128K，256K4）定制文件内容/访问权等 符合规范： ETSI TS 102 221: "Smart Cards; UICC-Terminal interface; Physical and logical characteristics" ETSI TS 102 221: "Smart Cards;Card Application Toolkit (CAT)" ETSITS131.111 (3GPP TS 31.111) USIM Application Toolkit(USAT) UICC multi-application platform New LTE data fields implemented Three applicati: Test SIM, Test USIM, Test ISIM Based on Java CardTM Open Platform technology 1.8V / 3V / 5V 128K EEPROM APIN 1 disabled GSM XOR/3G test algorithm Creation of new data fields allowed 4FF card: the 4th Form Factor (4FF) - 40% smaller than the Mini-UICC format (3FF)