手持式合金分析仪

使用手持式XRF分析仪的优势特性 信息全.面的牌号辨别：标准牌号库包括700多种独特的合金.牌号。基于工业标准的残量“杂质”库，简化了牌号的匹配操作。 SmartSort可以实现非常高的检测量：在必要时自动延长检测轻元素的时间，还可以取消不必要的长时检测。 微点准直器：可选购的准直器有助于用户从背景材料中区别出材料的细小特征。 可选5百万像素全景摄像头：保存并归档被测表面的摄像记录。 焊缝牌号库可方便地验证焊缝材料的化学成份和焊缝的级别。 应用领域 　◆ 材料可行性（PMI） ◆ 金属机加工 ◆废旧金属回收 ◆ 生产制造QA/QC控制 坚固耐用 符合IP 65/64评级标准，可以抵御灰尘和雨水的侵袭 通过了从4英尺高处坠落的测试（MIL-STD 810G），适合复杂场地和生产环境 可以在 -10 °C到50 °C的温度范围内操作 为装有硅漂移探.测器的分析仪，提供了金属自动挡板保护昂贵的探.测器 改进创.新 采用特有的Axon技术，更高的X 射线计数率，更快、更精.确的检测结果，以及更低的检出限 接近于理论极限的分辨率 无需标样自动能量校准，分析仪自动进行能量校准，保证了极高的测试稳定性 四核处理器可使用户在极短的时间内获得佳分析结果 高.效多产 简单直观的用户界面（UI）可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能 根据用户的特定需求，配置用户界面 用户可以自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键 通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单 M 系列 我们强大的Vanta 分析仪具有非同一般的性能，可以完成要求苛刻的应用。每台M 系列分析仪都配备有一个大区域SDD 硅漂移探.测器， 用户可选择50KV 的铑（Rh）或钨（W）阳极靶材的X 射线管。 主要型号有：VMR、VMW。 C 系列 C 系列Vanta 分析仪汇集了以下优.质特性：超高的速度、极低的检出限（ LOD）和宽泛的可测元素范围，是一款极.具价值的分析仪。每台C 系列分析仪都配备有一个高性能SDD 硅漂移探.测器，用户可以选择40KV 的铑(Rh) 或钨(W) 阳极靶材的X 射线管，或者50KV 的银(Ag) 阳极靶材的X 射线管。 主要型号有：VCR、VCW、VCA。 L 系列 L 系列Vanta 分析仪拥有较高X 射线计数率，超低电子噪声设计，使得仪器具有优.质的检出限（LOD)，极高的分析速度和准确性。每台L 系列分析仪都配备一个高性能Si-Pin 探.测器，和4W 的大功率钨（W）阳极靶材的X 射线管。 主要型号有：VLW。 技术规格 外形尺寸 8.3 cm × 28.9 cm × 24.2 cm（宽× 高× 厚） 激励源 根据不同应用，阳极靶可选择铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。M系列（Rh 和W）和C系列（Ag）: 8～ 50 KV 、C系列（Rh和 W）：8～40 KV、L系列（W）: 大 35KV 滤光片 8个滤光片，自动切换滤光片 探.测器 M系列：大区域SDD 硅漂移探.测器 C系列：SDD硅漂移探.测器 L系列：Si-Pin探.测器 电源 可拆装的14.4 V锂离子电池或18 V电源变压器， 100～240 VAC，50～60 Hz, 大70 W 显示 800 × 480 (WVGA) 液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制 环境 温度：-10℃~50℃（带可选风扇时，可连续工作） 湿度：相对湿度为10 %～90 %，无冷凝 坠落测试 通过了美军标准810-G的1.22 米高防坠落测试 IP 评级 M系列符合IP 64 评级的要求：防尘，而且可防止来自各个方向的水溅 C系列符合IP 65 评级的要求：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷 L系列符合IP 65 评级的要求：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷 压力校正 内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正 GPS 嵌入式GPS/GLONASS接收器 操作系统 Linux 数据存储 4GB 嵌入存储，带有microSD 卡插槽，可扩展存储容量 USB 两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、Bluetooth 和USB闪存驱动盘等配件 一个USB 2.0 袖珍B 型端口，用于连接计算机 WiFi 通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz） 蓝牙 通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能量功能 瞄准摄像头 全VGA CMOS摄像头 全景摄像头 500万像素CMOS 摄像头，带自动聚焦透镜