电子设备高低温测试设备 冷热循

电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱 根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和设备的内部结构不同。三箱式分为蓄冷箱，蓄热箱和试验箱，产品在测试时是放置在试验箱内。两箱式分为高温箱和低温箱，是通过电机带动吊篮升降来实现高低温的切换，要测试的通信、通讯产品放在吊篮里，是随吊篮一起移动的 电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱主要参数： 1.内箱尺寸： 350*400*350mm （宽，高，深） 外箱尺寸： 1560*2000*1500 （宽，高，深） 2．高低温度冲击范围：-40℃～+150℃（测试箱温度范围） 3.预热温度范围：常温～+165℃；（储存箱温度范围） 4.预冷温度范围：常温～-65℃；约60min（储存箱温度范围） （注：降温时间为低温室单独运转时的性能） 5．试验方式：2温区或3温区可选择； 6．温度波动度：±0.5℃ 27L冲击试验箱02.jpg 7．温度偏差：±2.0℃ 8．温度冲击恢复时间：≤5min 9．温度冲击移动复时间：≤10S 10．试样限制：本实验设备禁止易燃、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；生物试样的试验或储存；强电磁发射源试样的试验或储存。 电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱测控系统： 1.控制器：日本OYO9226S触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块 2.运行方式：程序方式 ﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度 高温恒温区预热温度 低温恒温区预热温度 低温恒温区除霜温度 ﹙2﹚指示精度 0.1℃ ﹙3﹚输 入 热电偶 ﹙4﹚控制方式 微电脑PID+SSR控制 3.设定方式：中文菜单，触摸屏方式输入。 27L冲击试验箱01.jpg 5.设定范围：预热预冷箱区 原理：电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱主要用于测试复合材料或材料结构在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下冲击所能忍受的程度,得以在短时间内检测样品因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。是LED、金属、光电、塑料、照明、橡胶、通讯、电子等成品或半成品材料行业必备的温冲测试设备。