IGBT动态参数测试系统 华科智

IGBT动态参数测试系统?是针对IGBT器件的开关性特性以及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统，适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。本系统适合各大研究院所做元器件检验，元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。 系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。 IGBT动态参数测试系统测试系统组成部分 1）开通时间测试单元 2）关断时间测试单元 3）二极管反向恢复特性测试单元 4）一套自动恒温气动压力夹具 5）PLC控制系统6)计算机控制系统 环境要求 A. 环境温度： 15～40℃ B． 相对湿度： 小于80% C. 大气压强： 86Kpa～ 106Kpa D. 电网电压： AC220V±10%无严重谐波 E． 电网频率： 50Hz±1Hz2.2 该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过特制测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。