HAST高压高加速老化试验箱

设备应用领域

HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

试验用途：高加速老化试验（HAST）目的是为了提高产品环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷.等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，随着电子、半导体产品可靠性的提高，目前大多电子器件能承受长期的高温高湿度偏差试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的密封性和老化性能。

产品参数：
可按需定制

温度范围:A(105℃~132°C);B(105℃~142.9°C); C(105C~155°C)可选

压力范围:A(压力表+0.2~2.0Okg/cm); B(压力表+0.2~3.0kg/cm); C(压力表+0.2~3.5kg/cm)

湿度范围:65%~100%R.H(可调)

湿度波动度:非饱和控制:±2.5%R.H、湿润饱和控制:100%R.H
HAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度（65%~100%RH可调)、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性
耐高温高湿能力的仪器设备。
适用标准：
GB/T2423.40,IEC60068-2-66,

JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A

产品特点：

1) 采用进口耐高温电磁阀双路结构，在最大程度上降低了使用故障率。
2) 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。
3) 门锁省力结构，解决一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。
4) 试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.
5) 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.
6) 水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.
7) tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试6kg.
8) 二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.
9) 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .
10) 偏压测试端子耐压可达3000V(选配）
11) USB导出历史记录数据，曲线.