半导体特性测试仪

西安天光测控技术有限公司  是一家专业从事 半导体功率器件测试设备 研发、生产、销售的高新技术企业。产品有半导体分立器件测试筛选系统。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的电参数及可靠性和老化测试。静态单脉冲（包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数）动态双脉冲（包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。环境老化测试（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）热特性测试（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各类全系列测试设备。广泛应用于半导体器件上游产业（设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板）和下游产业（院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等元器件的应用端产业链）。

公司团队汇集了来自国内著名院校及电力电子行业的专家教授。拥有众多国际领先的革命性创新技术和专利。产品成熟可靠，久经市场考验，在替代进口产品方面有着突出的优势。公司从产品到服务，从技术咨询到现场支持，可覆盖功率器件的初始研发到规模化生产的整个领域。

展望未来，公司将全力发挥自身技术优势，为客户提供全方位专家级的技术支持以及更多的经典产品。

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