光学材料全自动表面缺陷检测设备

光学材料全自动表面缺陷检测设备 --是一种新型自动化外观尺寸检测筛选设备，主要用于代替人工对各种类型的晶圆晶片、半导体硅片、抛光片等光学元器件进行称重检测、尺寸检测、外观检测、缺陷检测，字符检测等，检测完成后自动筛选分类，检测合格率100%。大大提高了光学元器件的外观尺寸检测精度和检测速度，并且大大降低人工检测成本，检测光学元器件的种类多，检测项目广，是理想的基片光学元器件外观检测筛选设备。 光学材料全自动表面缺陷检测设备原理：采用CCD影像控制系统作为主控单元，利用位移、视觉传感技术对产品图像进行判别，根据设置的产品参数，自动完成上料、检测、判别，自动筛选出良品与不良品。 光学材料全自动表面缺陷检测设备 技术特点： ● 非标定制，满足用户的不同需求 ● 全自动CCD视觉检测，代替人工检测，降低人工检测成本 ● 100%检测合格率 ● 检测精度高，高检测精度±0.005mm ● 检测项目多，检测范围广 ● 检测速度快，全天无休，快检测速度4500片/min ● 科技含量高技术先进、精度高、稳定性好质量可靠、操作方便。 ● 检测及装配过程中平稳、准确、无振动、冲击等不良现象。 ● 采用德国CCD高分辨率相机，质量可靠性能较好。 ● 可配自动输送装置、自动装配装置，完成进出料自动化 。