集成电路测试仪

产品内容： 英国abi_AT256 A4集成电路测试仪通道配置： 二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道：256路 二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道：64/128/192/256路（可扩充至2048路） 三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道：64/128/192/256路（可扩充至2048路） 功能用途： 1）集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测； 2）快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件； 3）对不良器件进行三维动态阻抗失效分析； 4）非加电条件下对集成电路、电路板进行端口动态阻抗测试分析； 5）快速准确定位失效集成电路故障管脚，查找故障电路板的失效I/O管脚； 6）测试可靠，解决器件工艺、电路板工艺问题，快速解决集成电路及电路板故障点定位问题； 7）进行集成电路和电路板阻抗一致性检测； 8）配合专用测控平台软件，实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。 技术规格： 1）256路二维集成电路专用V-I端口动态阻抗测试通道； 2）64/128/192/256路二维电路板专用V-I端口动态阻抗测试通道； 3）64/128/192/256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道； 4）4路探笔测试，4路V-T/V-T-F测试通道； 5）显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F； 6）可定制各种封装通用集成电路测试治具； 7）可定制各种电路板I/O接口测试治具； 8）系统提供测试自定义报告输出；中英文专用测试操作软件； 9）设备可以64通道为步进扩充到2048组测试通道。 英国abi_AT256 A4集成电路测试仪测试原理(V-I曲线测试)： 对元器件的每个管脚施加一个低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。 被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。 测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。 集成电路测试操作如此简单: 1.从数据库选择要测试的集成电路型号. 2.将集成电路插入测试座. 3.执行测试 4.得到PASS或FAIL的测试结果. 不需要电子专业知识. 适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板. 灵活、好安装、宜操作. 测试结果直接: PASS或FAIL. 软件可设定各种测试条件. 可提供完整的集成电路自定义测试分析报告. 英国ABI-AT256 A4全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件: -双列插脚(DIL) -小型封装集成集成电路(SOIC) -小型封装(SSOP, TSOP) -塑料无引线芯片载体封装(PLCC) -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP) -球门阵列封装(BGA) 注意: AT256 A4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。 三维立体V-I-F动态阻抗端口测试 AT256 A4内图1 AT256 A4测试报告 AT256 A4内图2 北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心）提供: 集成电路测试仪,集成电路筛选测试仪,元器件筛选测试仪,元器件检测仪,三维立体动态阻抗测试仪的使用技术培训服务,测试程序开发编译服务。 了解详细资料请点击：http：//www.ic168.cn https://www.2468.cn http://www.tester.cn https://www.etool.cn/ https://www.17.com.cn/