DSA8300-泰克数字分析仪采

泰克 Tek DSA8300 数字采样示波器 为挑战性的高速检定测试提供***的信号保真度DSA8300 系列提供了行业领先的小于 100 fs 的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持光通信标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155Mb/s - 100G 的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。 功能优势电模块信号测量准确度：超低系统抖动（典型 70GHz<100 fs 本底抖动允许对高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）设备进行检定，典型 45 Gb/秒的 3 阶谐波）。所有带宽上系统噪声业内***：600 μV （450 μV 典型）@ 60 GHz380 μV （280 μV 典型）@ 30 GHz程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量，避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。单台主机内最多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。 多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试，提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。 为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统，从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太网）和 100 Gb/s 以太网（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波长 850、1310 和 1550nm。优异的采集吞吐量，采样率 300 kS/s。 通过优异的系统吞吐量，可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 远程采样头程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化，简化测试系统的反嵌。独立的已校准通道相差校正。 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正，消除时滞，增强多通道测量的信号保真度。 DSA8300 DC - 80 GHz 300 kS/s 50 点 - 16,000 点（IConnect? 为 1M 点，80SJNB 为 10M 点） 取决于使用的采样模块，最多8条通道 80A02 EOS/ESD 保护模块，用于泰克电采样模块的静电隔离；本产品包含一致性声明 80A03 TEKCONNECT 探头接口模块 80A05 电时钟恢复模块升级80B28G 8000 系列 - 电采样示波器套装，支持 25/28 Gb/s 标准（包括 80E09B、82A04B、CR286A 和附件） 80C07B 光采样模块；2.488 GB/S OC48/STM16，2.500 GB/S 2GBE，2.500 GB/S 无限带宽；2.5 GHZ 光带宽 80C08D 单通道光采样模块；10G 光参考接收机滤波器；12 GHz 光宽带；单模/多模 80C10C 单通道，65/80 GHz 光采样模块（必须指定 F1、F2 或 F3 中的一个选件） 80C11B 单通道光采样模块；10G 光参考接收机滤波器；28 GHz 光宽带；单模 80C12B 12 GHz，宽波长，放大光采样模块 80C14 14+ GHz，宽波长，放大光采样模块 80C15 8000 系列光模块，32GHz，单模/多模，宽波长 80E03 采样模块；双，20GHZ 电采样模块 - 可追溯校准标准证明 80E04 采样模块；双，20GHZ 带 TDR 电采样模块 - 可追溯校准标准证明80E07B 8000 系列，双通道，30 GHz，远程电采样模块（包含 D1）80E08B 8000 系列，双通道，30 GHz，远程电采样模块，带 TDR（包含 D1）80E09B 8000 系列，双通道，60 GHz，远程电采样模块（包含 D1）80E10B 8000 系列，双通道，50 GHz，远程电采样模块，带 TDR（包含 D1）80E11 8000 系列，双通道，70 GHz，超低抖动，电采样模块（包含 D1）80E11X1 8000 系列，单通道，70 GHz，超低抖动，电采样模块（包含 D1） 82A04B 8000 系列，相位参考模块