P-7 台式探针式轮廓仪

P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 image.pngimage.png image.pngimage.png 主要功能 · 台阶高度：几纳米至1000μm · 微力恒力控制：0.03至50mg · 样品全直径扫描，无需图像拼接 · 视频：500万像素高分辨率彩色摄像机 · 圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差 · 软件：简单易用的软件界面 · 生产能力：通过测序，模式识别和SECS / GEM实现全自动化 image.png 主要应用 · 台阶高度：2D和3D台阶高度 · 纹理：2D和3D粗糙度和波纹度 · 形状：2D和3D翘曲和形状 · 应力：2D和3D薄膜应力 · 缺陷复检：2D和3D缺陷表面形貌 image.png 工业应用 · 大学、研究实验室和研究所 · 半导体和化合物半导体 · LED：发光二极管 · 太阳能 · MEMS：微机电系统 · 数据存储 · 汽车 · 医疗设备 · 还有更多：请与我们联系以满足您的要求