半导体分立器件测试系统

应用领域 院所、高校、半导体器件生产厂商、 电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、 新能源汽车、轨道机车检修等 设备用途 测试分析、器件选型 、筛选检验 、生产线自动批量测试等 技术指标 主极电压: 10mV-2000V 主极电流： 100nA-50A 扩展电流： 100A、500A、1000A、1300A 电压分辨率： 1mV 电流分辨率： 1nA 测试精度： 0.2%+2LSB 测试速度： 0.5mS/参数 系统功耗： <150w 质 量： 35KG 尺 寸： 450x570x280mm 通信接口： RS232 USB 工作温度： 25-40°C 测试范围 二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管? MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双极大功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS 达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，继电器RELAY，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC