光学元件薄膜滤光片检测设备

                                  台州振皓光学元件薄膜滤光片检测设备、表面划伤滤光片检测设备

          又分为薄膜吸收滤光片和薄膜中性滤光片两种。前者是在特定材料片基上，用化学使吸收线正好位于需要的波长处。一般透过的波长较长，多用做红外滤光片。后者是在一定片基上，用真空镀膜法交替形成具有一定厚度的高折射率或折射率的金属-介质-金属膜，或全介质膜，构成一种低级次的。

    膜层的材料、厚度和方式的选择，由所需要的中心波长和透射带宽A确定。目前能从紫外到红外任意波长、A为1-500埃的各种干涉滤光片。金属-介质膜滤光片的峰值透射率不如全介质膜高，但后者的次峰和旁带问题较严重。薄膜干涉滤光片中还有一种圆形或长条形可变干涉滤光片，适宜于空间天文测量。

                  系统主要功能

            1．高速识别检测功能2/s；

            2．检测精度±0.08mm；

            3．自动完成被检产品与相机获取图像同步；

            4．自动完成光学元件的外观缺陷检测；

            5．还可根据需要对不同颜色产品类型学习并检测；

            6．对产品图像进行自动存储，可进行历史查询；

            7．自动统计（良品、不良品、总数等）；